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VLSI测试方法学和可测性设计|环球今亮点

2023-02-28 08:28:11

来源: 互联网


(资料图片仅供参考)

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1、 《VLSI测试方法学和可测性设计》是2005年电子工业出版社出版的图书。

2、作者是雷绍充 邵志标 梁峰。

关键词: 测试方法 电子工业出版社

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